2024年8月16日，调研咨询机构环洋市场咨询出版的《全球SiC晶圆缺陷检测系统行业总体规模、主要厂商及IPO上市调研报告，2024-2030》，主要调研全球SiC晶圆缺陷检测系统总体规模，主要地区规模，主要企业规模和份额，主要产品分类规模，下游主要应用规模以及未来发展前景预测。统计维度包括销量、价格、收入，和市场份额。同时也重点分析全球市场主要厂商（品牌）产品特点、产品规格、价格、销量、销售收入及发展动态。历史数据为2019至2023年，预测数据为2024至2030年。
调研机构：Global Info Research电子及半导体研究中心
报告页码:140
根据本项目团队最新调研，预计2030年全球SiC晶圆缺陷检测系统产值达到2776百万美元，2024-2030年期间年复合增长率CAGR为21.4%。
全球SiC晶圆缺陷检测系统核心厂商有科磊、Lasertec、布鲁克、伟信科技和TASMIT, Inc.等，前五大厂商占有全球大约95%的份额。北美是最大的市场，占有大约32%份额，之后是欧洲和日本，分别占有27%和15%的市场份额。产品类型而言，碳化硅光学晶圆缺陷检测系统是最大的细分，占有大约97%的份额，同时就下游来说，碳化硅衬底片是最大的下游领域，占有73%份额。
根据不同产品类型，SiC晶圆缺陷检测系统细分为：碳化硅光学晶圆缺陷检测系统、碳化硅X-ray晶圆缺陷检测系统
根据SiC晶圆缺陷检测系统不同下游应用，本文重点关注以下领域：碳化硅衬底片、碳化硅外延片
本文重点关注全球范围内SiC晶圆缺陷检测系统主要企业，包括：科磊、Lasertec、伟信科技、Nanotronics、TASMIT, Inc.、布鲁克、LAZIN CO.,LTD、EtaMax、蔚华科技、昂坤视觉（北京）科技有限公司、格灵精睿、中电科风华、中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司、上海优睿谱半导体设备有限公司、大连创锐光谱科技有限公司、清软微视（杭州）科技有限公司、华工科技。
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