2024年11月15日消息,国家知识产权局信息显示,武汉邮电科学研究院有限公司申请一项名为“种基于锑化铋薄膜的高响应紫外探测器及其制备方法”的专利,公开号CN 118943229 A,申请日期为2024年7月。
专利摘要显示,本申请涉及一种基于锑化铋薄膜的高响应紫外探测器及其制备方法,其包括衬底、锑化铋薄膜和驱动电极;锑化铋薄膜位于所述衬底上,驱动电极位于所述锑化铋薄膜上。本申请证明了锑化铋材料可以应用于紫外成像技术,并且具有响应速度快,探测率高的优点,可覆盖大部分日盲光区域。
追加内容

本文作者可以追加内容哦 !