江波龙申请的“内存老化测试方法和内存老化测试装置”专利，通过优化测试指令间隔时间和功耗值，显著提升了内存老化测试的效果。这一技术突破不仅有助于提高江波龙的产品质量和市场竞争力，还将推动整个半导体行业的技术进步。$江波龙(SZ301308)$
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