免费报名| 是德科技芯片与新技术测试研讨会邀您参加！——CSE2025同期活动

随着5G通信全面铺开、高能效电子设备需求激增、汽车智能化升级深化以及物联网普及和可再生能源技术迭代等新兴领域的蓬勃发展，化合物半导体芯片凭借其高频率、耐高压高温、高能效等优势，正成为驱动产业升级的关键，引发全球半导体产业链的深度竞逐。碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）作为重要的化合物半导体材料，在功率器件和射频前端市场中则扮演着关键角色。

半导体工艺和材料技术的不断进步，特别SiC和GaN工艺的逐步成熟，功率器件、射频芯片、光芯片以及光模块等关键技术领域迎来了长足的发展。这些新型材料和工艺的应用，不仅显著提升了器件的性能和效率，还加速了新一代电子、通信和光学系统的创新步伐。这些技术突破也为测试带来了前所未有的挑战，高频、高功率、高可靠性的测试需求不断增长。

Keysight是德科技作为全球测试测量领域的领军者，将在CSE展会期间与九峰山实验室联合举办芯片与新技术测试研讨会，围绕新型半导体技术及光电芯片技术展开，深入探讨如何应对这些挑战，覆盖最新测试技术的研究进展、实际应用案例及未来发展方向。研讨会将重点聚焦功率器件测试、光电器件、高算力芯片、MMIC测试以及迈向224Gbps/lane光模块五大领域。

九峰山实验室 | 是德科技

芯片与新技术测试研讨会

诚邀您与行业专家、工程师与技术决策者共聚一堂，探索测试技术如何驱动下一代半导体创新！欢迎参与本次研讨会，与行业领袖共探测试技术赋能产业创新。同时， 我们还为参会的观众准备了精美伴手礼，欢迎报名。

精彩议题抢先看

会议时间：2025年4月22日，下午13:30 – 17:00

会议地点：湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道787号，中国光谷科技会展中心，多功能厅3

会议流程：

13:30 – 14:00

签到

14:00 – 14:10

开场致辞 演讲人：刘钊 九峰山实验室，无线测试负责人

14:10-14:40

功率半导体静态与动态参数测试概览

演讲人：郭志勋 是德科技

演讲主题：

介绍国内外功率半导体测试规范，包括国际JEDEC标准与国内新发布的CASA标准进度

功率半导体静态与动态参数测试与挑战

14:40 – 15:10

光电器件及芯片测试解决方案

演讲人：朱振华 是德科技

演讲主题：

高速光电芯片及器件发展趋势

光电芯片研发和生产周期内的完整解决方案，包括器件参数测量、自动化测试和产测等应用

15:10 – 15:40

AIDC-高算力芯片新技术测试挑战

演讲人：朱杰昕 是德科技

演讲主题：

介绍迈向AI数据中心，高算力芯片互连总线技术

（PCIe/CXL）及大内存技术（DDR/HBM）发展趋势及测试方法

15:40 – 15:50

茶歇

15:50 – 16:20

MMIC测试难点与挑战

演讲人：郭志勋 是德科技

演讲主题：

介绍MMIC的测试难点

介绍MMIC的典型参数测试方法，包括调制失真，噪声系数，带宽，EVM，ACPR，增益，THD等

介绍MMIC的典型测试仪器平台，包括网络仪，信号源，频谱仪等

16:20 – 16:50

224Gbps/lane光模块关键技术

演讲人：朱振华 是德科技

演讲主题：

介绍迈向224Gbps/lane的关键Serdes技术及测试、LPO技术的挑战及验证方法、高密度CPO接口的测试方法等

16:50 – 17:00

答疑

九峰山实验室 | 是德科技

芯片与新技术测试研讨会

期待与您携手迎接化合物半导体行业的全新机遇与挑战。让我们相约2025年4月23-25日·武汉光谷科技会展中心，共同见证盛会的精彩绽放！

张女士：13681329411

邮箱：zhangww@casmita.com

邮箱：jiaxl@casmita.com

【报名详询】

芦老师：010-82380580

【观众组团】

杨老师：15071022208

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