睿创微电子发布8 μm像元非制冷红外焦平面探测器OHLE6081

MEMS

麦姆斯咨询获悉，近日，红外探测器领军厂商睿创微纳子公司睿创微电子发布了新款非制冷红外焦平面探测器OHLE6081。OHLE6081是睿创微纳首款使用8 μm像元技术的SWLP探测器，体积小巧，功能强大，适用多种红外热成像应用场景。

非制冷红外焦平面探测器OHLE6081

体积小巧，功能强大

OHLE6081非制冷红外焦平面探测器响应波段8~14 μm，像元间距8 μm，探测器分辨率640 × 512，测温范围覆盖-40℃~800℃，器件重量<1 g，器件功耗小于0.12 W。

行业首创SWLP，颠覆传统封装技术、可快速量产

OHLE6081非制冷红外焦平面探测器采用最先进的8 μm像元技术，更小像元，带来更高分辨率和细节识别能力、更优的SWaP设计、更低成本和更强的集成能力。

睿创微纳行业首创新型封装技术SWLP，采用双层封装设计，可有效实现防尘防颗粒，打破生产环境限制，对装配过程的灰尘、颗粒耐受度更高，常规环境即可集成。同时，还匹配SMT工艺高效贴装，可快速实现快速批量。SWLP技术极大降低红外热成像上游行业准入门槛，让更多企业可以自主实现机芯模组的研发制造。

拥有高品质图像、宽测温范围

OHLE6081非制冷红外焦平面探测器面阵规模640×512，并搭配8 μm高性能像元技术，NETD<50 mK，图像清晰细腻。此外，OHLE6081的-40℃~800℃宽测温范围，有助于打破场景和目标物的温度限制，提高终端设备的测温范围，适配更多应用场景需求。

灵活嵌入各类红外终端设备

OHLE6081非制冷红外焦平面探测器凭借小巧机身，可以灵活应用于各种红外终端设备中，同时匹配640×512分辨率和SWLP技术，更好性能更易集成，赋能终端适应更多场景。